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台階儀-表麵輪廓儀DEKTAK XT

更新時間:2022-03-24

產品品牌:Bruker

產品型號:DEKTAK XT

產品描述:德國布魯克 DektakXT 台階儀(探針式表麵輪廓儀)可以提供更高的重複性和分辨率,測量重複性可以達到5Å。使納米尺度的表麵輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用於微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管的研發以及材料科學領域。

    德國布魯克DektakXT台階儀(探針式表麵輪廓儀)可以提供更高的重複性和分辨率,測量重複性可以到5Å。台階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術,更加鞏固了其行業。不論應用於研發還是產品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT台階儀(探針式表麵輪廓儀)的技術,使納米尺度的表麵輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用於微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管的研發以及材料科學領域。

    台階儀DektakXT能實現:

    1、 使用溫度條件:10-30℃;

    2、無可匹敵的性能,台階高度重現性低於4埃

    3、Single-arch設計提供掃描穩定性

    4、先進的“智能電子器件”設立了新低噪音基準

    5、新硬件配置使數據采集時間縮短

    6、64-bit,Vision64同步數據處理軟件,使數據分析速度高了10倍

    7、頻率,操作簡易

    8、直觀的Vision64用戶界麵,操作簡易

    9、針尖自動校準係統

    10、布魯克(Bruker)以實惠的配置實現高的性能

    11、單傳感器設計,提供單一平麵上低作用和寬掃描範圍


       建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀,在基於微處理器的輪廓儀,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀,內置真彩高清光學攝像機,及安裝64-bit並行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
       當需要台階高度、表麵粗糙度、測量時,人們就會借助Dektak。引進DektakXT,Bruker能讓您進一步獲得表麵測量

 

數據采集和分析速度
   直接驅動掃描平台,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大範圍掃描3D形貌或者對於表麵應力長程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時的)的掃描速度。在行業的質量和重現性前提下,DektakXT可以將數據采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大範圍3D形貌圖的高數據量處理速度,並且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內的直觀用戶界麵,簡化了實驗操作設置,自動完成多掃描模式,讓重複和常規的實驗操作變得更快速簡潔。

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