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    三維表麵測量係統

    更新時間:2023-02-10

    產品品牌:Bruker

    產品型號:NP Flex

    產品描述:布魯克NPFLEX 三維表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測量空間,克服了以往由於零件某些角度或取向問題造成的測量困難。NPFLEX是針對大型、異型工件進行非接觸測量,獲得微米級、毫米級樣品形貌特征的三維表麵測量係統。

    為大尺寸工件加工提供非接觸準確測量布魯克的NPFlex三維表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,可廣泛用於醫療植入,航空航天、汽車或加工上的大型、異型工件的測量。基於白光幹涉原理,NPFlex為用戶提供超過接觸式方法所能達到的更大數據量、更高分辨率和更好的重複性,使它成為互補型的測量方案。

    開放式的龍門設計克服了以往某些零件由於角度或取向造成的測量困難,現在NPFlex可實現超過300度的測量空間。NPFlex的靈活性、數據準確性和測試效率為加工行業提供了一種簡單的方法,來實現其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產品。

    布魯克NPFLEX三維表麵測量係統為大樣品的表麵表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測量空間,克服了以往由於零件某些角度或取向問題造成的測量困難。NPFLEX是針對大型、異型工件進行非接觸測量,獲得微米級、毫米級樣品形貌特征的三維表麵測量係統

    其靈活性表現在可用於測量表征更大的麵型和更難測的角度

    ·空間設計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多

    ·開放式龍門、定製的夾具和可選的搖擺測量頭可輕鬆測量想測部位

    三維表麵信息測量

    ·每次測量均可獲取多種分析結果

    ·更容易獲得更多的測量數據來幫助分析

    垂直方向可達納米級分辨率,提供更多的細節

    ·幹涉技術實現每一個測量象素點上亞納米級垂直分辨率

    快速獲取測量數據,測試過程迅速

    ·少的樣品準備時間和測量準備時間

    ·比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個麵)獲得表麵更多的數據

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